?電鍍鍍層膜厚檢測(cè)儀 快速：1分鐘就可以測(cè)定樣品鍍層的厚度，并達(dá)到測(cè)量精度的要求。 方便：X熒光光譜儀部分機(jī)型采用進(jìn)口國(guó)際上進(jìn)的電制冷半導(dǎo)體探測(cè)器，測(cè)試精度更高，操作使用方便。并且運(yùn)行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。 無損：測(cè)試前后，樣品無任何形式的變化。 直觀：實(shí)時(shí)譜圖，可直觀顯示元素含量。 測(cè)試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)。對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。 可靠性高：由于測(cè)試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度，重復(fù)性與穩(wěn)定性很高。所以，其測(cè)量的可靠性更高。